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| 1 |       | Torsten Scheuermann, Georg Pfundt, Peter Eyerer, Bernd Jähne: Oberflächenkonturvermessung mikroskopischer Objekte durch Projektion statisitscher Rauschmuster. DAGM-Symposium 1995: 319-326 |
Selection of 1 from 2 records - Peter Eyerer has 4 coauthors
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