- CSB - MetaPress - Google - Bing - Yahoo
 | 2010 | |
|---|---|---|
| j1 |      | S. Libertino, D. Corso, G. Murè, A. Marino, F. Palumbo, F. Principato, G. Cannella, T. Schillaci, S. Giarusso, F. Celi, M. Lisiansky, Y. Roizin, Salvatore Lombardo: Radiation effects in nitride read-only memories. Microelectronics Reliability 50(9-11): 1857-1860 (2010) |
| 1 | G. Cannella | |
| 2 | D. Corso | |
| 3 | S. Giarusso | |
| 4 | S. Libertino | |
| 5 | M. Lisiansky | |
| 6 | Salvatore Lombardo | |
| 7 | A. Marino | |
| 8 | G. Murè | |
| 9 | F. Palumbo | |
| 10 | F. Principato | |
| 11 | Y. Roizin | |
| 12 | T. Schillaci |
Data released under the ODC-BY 1.0 license — See also our legal information page