17. DAGM-Symposium 1995: Bielefeld, Germany

Gerhard Sagerer, Stefan Posch, Franz Kummert (Eds.): Mustererkennung 1995, 17. DAGM-Symposium, Bielefeld, 13.-15. September 1995, Proceedings. Informatik Aktuell Springer 1995, ISBN 3-540-60293-3 CiteSeerX Google scholar pubzone.org BibTeX bibliographical record in XML

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